A análise da sonda de íons é um feixe de íons primário de alta energia bombardeando a superfície da amostra, pulverizando para gerar íons secundários. Depois que essas partículas carregadas são separadas pelo analisador de massa, elas finalmente chegam ao detector, alcançando uma análise precisa da composição do material na superfície da amostra.
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No primeiro trimestre, a indústria regulamentada de fabricação de informações eletrônicas da China alcançou um crescimento anual de 14,8% no lucro operacional.
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